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包郵 材料分析檢測方法

出版社：冶金工業(yè)出版社出版時間：2023-08-01
開本： 26cm 頁數(shù)： 295頁
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材料分析檢測方法 版權(quán)信息

材料分析檢測方法 內(nèi)容簡介

本書主要介紹了X射線衍射技術(shù)和材料電子顯微分析技術(shù)的設(shè)備原理及分析實驗方法，主要內(nèi)容包括：X射線衍射分析、擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜、透射電子顯微分析、掃描電子顯微分析、掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡、光電子能譜分析、俄歇電子能譜學(xué)和熱分析。書中引用案例均來自材料科學(xué)領(lǐng)域的新成果。 本書可作為高等院校材料科學(xué)與工程等專業(yè)本科生和研究生的教材，也可供從事材料研究及分析檢測的科研人員學(xué)習(xí)參考。

材料分析檢測方法 目錄

1 緒論 2 X射線衍射分析 2.1 X射線物理基礎(chǔ) 2.1.1 X射線的發(fā)展歷程 2.1.2 X射線的本質(zhì) 2.1.3 X射線的產(chǎn)生 2.1.4 連續(xù)X射線譜 2.1.5 特征X射線譜 2.2 X射線衍射幾何 2.2.1 布拉格方程 2.2.2 倒易點陣及衍射矢量方程 2.3 X射線衍射強度 2.3.1 一個電子對X射線的散射強度 2.3.2 一個原子對X射線的散射強度 2.3.3 一個晶胞對X射線的散射強度 2.3.4 小晶體對X射線散射的積分強度 2.3.5 粉末多晶體衍射的積分強度 2.3.6 影響衍射強度的其他因素 2.4 X射線衍射方法 2.4.1 多晶體衍射方法 2.4.2 單晶體衍射方法 2.5 X射線衍射分析的應(yīng)用 2.5.1 X射線物相分析 2.5.2 點陣常數(shù)的精確測定 2.5.3 宏觀內(nèi)應(yīng)力測定 2.5.4 晶體取向的測定 2.5.5 聚合物材料X射線分析 2.5.6 非晶材料的X射線散射分析 2.5.7 薄膜材料的X射線散射分析 2.5.8 計算機在X射線結(jié)構(gòu)分析與材料設(shè)計中的應(yīng)用 2.5.9 案例分析 習(xí)題 參考文獻 3 擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜 3.1 基本原理 3.1.1 XAFS現(xiàn)象 3.1.2 EXAFS現(xiàn)象 3.1.3 波的傅里葉變換 3.1.4 徑向分布函數(shù)和徑向結(jié)構(gòu)函數(shù) 3.2 擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜實驗方法 3.2.1 XAFS數(shù)據(jù)采集 3.2.2 EXAFS數(shù)據(jù)擬合 3.3 X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜的應(yīng)用 3.3.1 擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜分析在催化劑研究中的應(yīng)用 3.3.2 用擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu)譜分析研究大氣顆粒物中鐵的種態(tài) 3.3.3 案例分析 習(xí)題 參考文獻 4 透射電子顯微分析 4.1 透射電鏡構(gòu)造及工作原理 4.1.1 透射電鏡成像原理 4.1.2 透射電鏡結(jié)構(gòu) 4.1.3 透射電鏡電子光學(xué)系統(tǒng) 4.1.4 加速電壓與電子波的波長 4.1.5 電子束傾斜、平移原理 4.1.6 電磁透鏡對電子束的會聚作用及焦距 4.1.7 光闌的限場作用 4.1.8 透射電鏡的分辨率 4.1.9 電磁透鏡的像差 4.1.10 透射電鏡合軸 4.2 樣品制備 4.2.1 粉末樣品的制備 4.2.2 薄膜樣品的制備 4.3 透射電鏡中的電子衍射技術(shù) 4.3.1 菊池花樣 4.3.2 電子衍射技術(shù) 4.4 透射電鏡中電子衍射譜的標定 4.4.1 立方和密排六方晶體衍射譜的標定 4.4.2 多晶衍射譜的標定 4.4.3 孿晶電子衍射譜的標定 4.5 電子顯微學(xué)衍襯成像理論 4.5.1 基本概念 4.5.2 衍襯運動學(xué)理論 4.5.3 衍襯動力學(xué)理論 4.5.4 常用衍襯成像分析方法 4.6 高分辨電子顯微鏡簡介 4.6.1 相位襯度 4.6.2 相位傳遞函數(shù)與Scherzer欠焦條件 4.6.3 高分辨顯微圖像 4.6.4 掃描透射技術(shù) 4.6.5 球差校正技術(shù) 4.7 透射電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用 4.7.1 位錯襯度分析及柏氏矢量的確定 4.7.2 層錯分析 4.7.3 波紋圖 4.7.4 第二相應(yīng)變場襯度 4.8 案例分析 4.8.1 透射電子顯微術(shù)*新研究進展 4.8.2 使用小角中子散射（SANS）和高分辨透射電鏡分析中熵合金中的納米析出相 4.8.3 利用透射電鏡研究高熵合金中的位錯組態(tài) 習(xí)題 參考文獻 5 掃描電子顯微分析 5.1 掃描電子顯微分析 5.1.1 掃描電鏡工作原理 5.1.2 掃描電鏡主要結(jié)構(gòu) 5.1.3 電子束與物質(zhì)相互作用激發(fā)產(chǎn)生的物理信號 5.1.4 掃描電子顯微鏡特點 5.1.5 掃描電鏡圖像襯度 5.2 電子探針顯微分析 5.2.1 電子探針的分析原理和構(gòu)造 5.2.2 電子探針X射線譜儀 5.2.3 電子探針的分析方法和應(yīng)用 5.3 掃描電子顯微鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用 5.3.1 斷口形貌表征 5.3.2 斷裂過程的原位動態(tài)表征 5.3.3 晶體取向特征表征 5.3.4 掃描透射像的表征 5.4 案例分析 5.4.1 添加Ca、Nd、Er元素AZ91鎂合金微觀組織演變SEM表征 5.4.2 添加Ca、Er及Nd/Ca復(fù)合元素AZ91鎂合金浸泡腐蝕形貌的SEM表征 習(xí)題 參考文獻 6 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡 6.1 掃描隧道顯微鏡 6.1.1 掃描隧道顯微鏡的工作原理 6.1.2 掃描隧道顯微鏡分析的特點及應(yīng)用 6.2 原子力顯微鏡 6.2.1 原子力顯微鏡的工作原理 6.2.2 原子力顯微鏡的應(yīng)用 6.3 案例分析 6.3.1 表面配位層鈍化銅的氧化 6.3.2 通過新型聚合物受體實現(xiàn)寬吸收和低能量損耗 習(xí)題 參考文獻 7 光電子能譜分析 7.1 X射線光電子能譜法 7.1.1 X射線光電子能譜的基本原理 7.1.2 X射線光電子能譜儀 7.1.3 X射線光電子能譜分析與應(yīng)用 7.1.4 樣品的制備 7.2 紫外光電子能譜 7.2.1 紫外光電子能譜的基本原理 7.2.2 紫外光電子能譜儀 7.2.3 紫外光電子能譜分析與應(yīng)用 7.3 案例分析 習(xí)題 參考文獻 8 俄歇電子能譜學(xué) 8.1 基本原理 8.1.1 俄歇電子發(fā)射 8.1.2 俄歇電子能量 8.1.3 俄歇電子產(chǎn)額 8.1.4 電子能譜 8.1.5 電子逃逸深度 8.2 基本裝置與實驗方法 8.2.1 基本裝置 8.2.2 數(shù)據(jù)收取 8.2.3 定量分析 8.2.4 化學(xué)態(tài)的判斷 8.2.5 結(jié)果形式 8.2.6 方法的局限性 8.3 應(yīng)用實例 8.3.1 微電子學(xué)的應(yīng)用 8.3.2 多層膜的研究 8.3.3 表面偏聚的研究 8.3.4 晶界的化學(xué)成分 8.4 俄歇電子能譜方法實操總結(jié) 8.4.1 俄歇電子能譜方法的特點和局限性 8.4.2 電子源的種類和樣品制備技術(shù) 8.4.3 俄歇電子能譜應(yīng)用及分析中需注意的問題 8.5 案例分析 8.5.1 薄膜襯底材料中俄歇電子能譜的蒙特卡羅模擬 8.5.2 金屬鈾與鋁薄膜界面的俄歇電子能譜研究 習(xí)題 參考文獻 9 熱分析 9.1 差熱分析法 9.1.1 基本原理與差熱分析儀 9.1.2 差熱曲線分析與應(yīng)用 9.1.3 影響差熱分析曲線測定結(jié)果的因素 9.2 差示掃描量熱法 9.2.1 基本原理與差示掃描量熱儀 9.2.2 影響差示掃描量熱曲線測定結(jié)果的因素 9.3 熱重法 9.3.1 基本原理與熱重法儀 9.3.2 影響熱重曲線的因素 9.3.3 熱重法的應(yīng)用 9.4 案例分析 9.4.1 含Ca、Nd、Er元素AZ91鎂合金差熱分析 9.4.2 添加La、Ce、Er、Sc元素的鋁硅鑄造合金差熱分析 習(xí)題 參考文獻
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